韓國MicroPioneer X-射線熒光電鍍膜厚測(cè)試儀　產(chǎn)品介紹
　韓國MicroPioneer X-射線熒光電鍍膜厚測(cè)試儀XRF　原理來分析測(cè)量金屬厚度及物質(zhì)成分，可用于材料的涂層/鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測(cè)。
　　XRF-2000系列分為以下叁種：
　　1.H-Type：密閉式樣品室，方便測(cè)量的樣品較大，高度約100mm以下。
　　2.L-Type：密閉式樣品室，方便測(cè)量樣品較小，高度約30mm以下。
　　3.PCB-Type：開放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測(cè)。
　　應(yīng)用
　　測(cè)量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測(cè)元素的范圍：Ti（22）~U（92）。
　　行業(yè)
　　五金類、螺絲類、PCB　類、連接器端子類行業(yè)、電鍍類等。
特色
　　非破壞，非接觸式檢測(cè)分析，快速精準(zhǔn)。
　　可測(cè)量高達(dá)六層的鍍層（五層厚度底材）并可同時(shí)分析多種元素。
　　相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測(cè)量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報(bào)告。
　　全系列*設(shè)計(jì)樣品與光徑自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)。
　　標(biāo)準(zhǔn)配備：溶液分析軟體，可以分析電鍍液成份與含量。
　　準(zhǔn)直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來選擇準(zhǔn)值器的口徑。
　　移動(dòng)方式：全系列全自動(dòng)載臺(tái)電動(dòng)控制，減少人為視差。
　　*2D與3D或任意位置表面量測(cè)分析。
　　雷射對(duì)焦，配合彩色CCD擷取影像使用point　and　shot功能。
　　標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體搭配內(nèi)建多種專業(yè)報(bào)告格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整報(bào)告。
　　光學(xué)2　0X　影像放大功能，更能精確對(duì)位。

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